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矽芯片冷熱衝擊試驗箱

更(gèng)新時間:2023-02-08   點擊次數:887次

一、簡介(jiè):8x8x在线免费视频係列冷熱衝(chōng)擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料(liào)行(háng)業bi備的測試設備,用於測試材料結構或複合材料,在瞬間下經ji高(gāo)溫及極低溫的連續環境下忍受的程度,得以在zuì短時間內檢測試樣因熱脹冷縮(suō)所引起的化學變(biàn)化或物理傷害。冷熱衝擊試驗箱(xiāng)滿足(zú)的(de)試驗(yàn)方(fāng)法:GB/T2423.1.2GB/T10592-2008GJB150.3高低溫衝擊(jī)試驗。

二、用途 :8x8x在线免费视频係列高低溫衝擊測試箱(xiāng)用於電子電器零組件、自動化零(líng)部件、通(tōng)訊組(zǔ)件、汽車配(pèi)件、金屬、塑膠等行業,國防工業、航(háng)天(tiān)、兵工(gōng)業、電子芯片IC、 半導體陶(táo)瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高(gāo)、低溫的反複抵拉力及產(chǎn)品於熱脹冷縮產出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件,無一不需(xū)要它的(de)理想測試工具。

三、滿足標準:GB 10589-89GB 10592-89GB 11158-89GB/T 5170.2-1996GB 2423.1-89GB 2423.2-89GB 2424.1-89GJB 150.5-86QC/T 17-92IEA 364-32IEC 68-2-14等。

四、性能技術參數:

規(guī)格型號:HE-LR-50/80/100/150/252/480

容量:50升、80升、100升、150升、252升、480

內箱(xiāng)尺寸(寬**深):400X350X360500X400X400500X500X400600X500X500700X600X600800X800X750MM

試驗溫度範圍:S表示:-40℃~+150

              W表示:-55℃~+150

              L表示:-65℃~+150

低溫(wēn)槽溫度範圍:-55℃~-10℃、-70℃~-10℃、-80℃~-10

高溫槽(cáo)溫度範圍:+60℃~+200,升溫速率平均5/MIN

溫度波動度:±2.0

溫度轉換時間:10S

溫度穩定時間:5MIN,常溫~zuì低溫度5MIN,常溫~zuì高溫度5MIN

內箱材質:SUS304鏡麵不(bú)鏽鋼

外箱材質:SUS201紗麵不鏽鋼(gāng)或電(diàn)解鋼板噴塑處理

冷凍係統:冷凍機組為複疊式,進口壓縮機

冷卻方式:水(shuǐ)冷或風冷(可選擇)

控製器係統:彩色觸摸式控製器

標配:測試1個,樣品架2

使(shǐ)用電源:AC 三相 五線 380V 50HZ

保護(hù)裝置:無熔絲開關(guān),壓縮機過(guò)載保護,超溫保護,風機過載保護,保險絲

聯機軟件:R232485USB接口(kǒu)

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