電子（zǐ）芯片高低溫衝擊試驗（yàn）箱

一、簡介：8x8x在线免费视频係（xì）列高低溫衝擊試驗箱是金屬（shǔ）、塑料、橡膠（jiāo）、電子等（děng）材料行業的測試設備，用於測試材料結構或複合材料，在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受（shòu）的（de）程度，得以在zuì短時間內檢測試樣因熱脹（zhàng）冷縮所引起的化學（xué）變化或（huò）物理傷害。冷熱衝擊試驗箱滿足的（de）試驗方法（fǎ）：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫（wēn）衝擊試驗。

二、用途 ：8x8x在线免费视频係列高低溫衝擊測試箱用於電子電器零組件、自動化零（líng）部件（jiàn）、通訊組件、汽車配（pèi）件、金屬、塑膠等（děng）行業，國防工業、航天（tiān）、兵工業、電子芯（xīn）片IC、 半導體陶（táo）瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反複抵拉力（lì）及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械（xiè）的（de）組件（jiàn），無一不需要它的理想測試工具。

三、滿足標準：GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

四、性能技術參數：

規格（gé）型號：HE-LR-50/80/100/150/252/480

容量（liàng）：50升、80升（shēng）、100升、150升、252升、480升

內箱尺寸（寬*高*深（shēn））：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）

外形（xíng）尺寸（寬*高*深（shēn））：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）

試驗溫（wēn）度範圍：S表示：-40℃～+150℃

              W表示：-55℃～+150℃

              L表示：-65℃～+150℃

低溫槽溫度範圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高溫槽溫度範圍：+60℃～+200℃，升溫（wēn）速率平均5℃/MIN

溫度波動度：±2.0℃

溫度轉換時間：10S

溫度穩定時間：5MIN，常溫～zuì低溫度（dù）5MIN，常溫～zuì高溫度5MIN

內箱材質：SUS304鏡麵不鏽（xiù）鋼

外箱材質：SUS201紗麵不鏽鋼或電解鋼板噴塑處理

冷凍係統：冷凍機組為複疊式，進口（kǒu）壓縮機，R404A、R23A環（huán）保冷媒

冷卻方式：水冷或風（fēng）冷（可選擇（zé））

控製器係統：彩色觸摸式控製器

標配：測試1個（gè），樣（yàng）品架2個

使用（yòng）電源：AC 三（sān）相 五線 380V 50HZ

保（bǎo）護裝（zhuāng）置：無熔絲（sī）開關，壓縮機（jī）過載保（bǎo）護，超溫保（bǎo）護，風機過載保護（hù），保（bǎo）險絲

聯機軟（ruǎn）件：R232、485或USB接口

五、執行標準：

　　1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方（fāng）法；

　　2、GB/T2423.2-2001；

　　3、GB/T2423.22-1989溫（wēn）度變化試驗N；

　　4. GJB150.3-86；

　　5. GJB150.4-86；

　　6. GJB150.5-86；

　　7、GJB150.5-86溫度衝擊試驗；

　　8、GJB360.7-87溫度衝擊試驗；

　　9、GJB367.2-87 405溫度衝擊試驗；

　　10、SJ/T10187-91Y73係列溫度變化試驗箱（xiāng）——一箱式；

　　11、SJ/T10186-91Y73係列溫度變化試驗箱（xiāng）——二箱式；

　　12、滿足標（biāo）準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；

　　10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；

　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變化（huà）；

　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候（hòu）性試驗一般（bān）規則；

　　13、EIA 364-32熱衝擊（溫（wēn）度循環）測試程序的電連接器和插座的環境影響評估。